原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對(duì)探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段；科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動(dòng)力學(xué)分析；電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。原位X射線衍射儀檢測

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更新時(shí)間：2024-09-12

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三維X射線顯微鏡（XRM）

D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8

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原位X射線衍射儀檢測

項(xiàng)目	細(xì)則	收費(fèi)	說明
2Theta/Omega、 XRR、GID	薄膜樣品：每樣品測試不超過 30 min；掃描時(shí)間大于 30min，延長時(shí)間按240 元/30min收費(fèi)，不足30min 按 30min 計(jì)	/	1.長時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測試，價(jià)格需面議； 2.原位測試需提供測試方法
高溫測試	室溫至 1100℃，包含 2 個(gè)溫度點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240元/測試點(diǎn) (校外 240 元/測試點(diǎn))	/
中低溫測試	-180 至 450℃，多溫度點(diǎn)測試時(shí)第三個(gè)溫度起，以 240 元/ 測試點(diǎn)計(jì)，低溫測試液氮另加 30 元/時(shí)	/
低溫測試	溫度起點(diǎn)低于-180℃，低至 12K，多溫度點(diǎn)測試時(shí)第三個(gè) 溫度起，以 240元/測試點(diǎn)計(jì)	/
電池充放電測試	變溫范圍：-25℃~+80℃， Peltier 變溫，包含 2 個(gè)測試點(diǎn)，第二點(diǎn)后， 240 元/測試點(diǎn)	/
原位電化學(xué)測試	包含 2 個(gè)測試點(diǎn)，第二測試點(diǎn) 以后， 240 元/測試點(diǎn)	/

原位X射線衍射儀檢測.

儀器功能特點(diǎn)：

1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuǎn)靶光源，強(qiáng)度是封閉靶的5倍；

2- 入射光路三光路自動(dòng)切換系統(tǒng)：粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路；高分辨光路：高分辨毛細(xì)管透射、反射、外延薄膜高分辨；

3- 探測器的開口大，適合測試速度快原位；配置準(zhǔn)直器后開展二維衍射實(shí)時(shí)分析，還原原位二維信息；配備的高低溫系統(tǒng)可實(shí)時(shí)檢測反應(yīng)中結(jié)構(gòu)的演變過程；

4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準(zhǔn)確地追溯揭示了phase transformation過程。

應(yīng)用范圍：

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化，這對(duì)探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段；

科研支撐

變溫物相分析

變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動(dòng)力學(xué)分析

分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。

產(chǎn)業(yè)支撐

藥物作用機(jī)理及動(dòng)力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩(wěn)定性分析。

上一個(gè)：雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測