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電子順磁共振波譜儀，簡(jiǎn)稱EPR或ESR，是一種基于電子順磁共振現(xiàn)象的分析技術(shù)，專門用于檢測(cè)和研究具有未配對(duì)電子的物種，如自由基、某些過渡金屬離子和缺陷態(tài)材料。這項(xiàng)技術(shù)能夠提供物質(zhì)分子結(jié)構(gòu)、電子狀態(tài)以及其周圍環(huán)境的詳細(xì)信息，是化學(xué)、物理、生物學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域的重要研究工具。EPR波譜儀的核心工作原理是，當(dāng)樣品中的未配對(duì)電子置于外加磁場(chǎng)中時(shí)，這些電子的磁矩會(huì)與磁場(chǎng)相互作用，產(chǎn)生能級(jí)分裂。此時(shí)，如果外加一個(gè)頻率合適的微波，電子會(huì)吸收微波能量并躍遷至高能級(jí)，形成所謂的電子順磁共振吸...

在物理、化學(xué)、生物等科學(xué)領(lǐng)域的研究實(shí)驗(yàn)室中，電子順磁共振波譜儀是一種不可或缺的分析工具。它通過探測(cè)物質(zhì)分子中未配對(duì)電子的磁性質(zhì)，揭示了分子結(jié)構(gòu)的諸多秘密，為科學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的支持。電子順磁共振波譜儀基于電子順磁共振現(xiàn)象，即未配對(duì)電子在磁場(chǎng)中對(duì)微波的吸收。這項(xiàng)技術(shù)涉及到將樣品置于一個(gè)嚴(yán)格控制的磁場(chǎng)環(huán)境中，并使其受到特定頻率微波的作用。當(dāng)未配對(duì)電子吸收微波能量時(shí)，它們會(huì)在特定的能級(jí)之間躍遷，而這種躍遷被儀器檢測(cè)并記錄下來，形成特有的波譜圖。這種波譜圖是順磁共振波譜儀輸出的關(guān)鍵...

織構(gòu)簡(jiǎn)介一般的多晶材料表現(xiàn)出各向同性，這是因?yàn)樵诙嗑w中各晶粒無規(guī)取向。如果因?yàn)槟承┰蚴沟妹總€(gè)晶粒的取向趨于一致，我們稱之為擇優(yōu)取向或者織構(gòu)。出現(xiàn)織構(gòu)以后，材料將表現(xiàn)出不同程度的各向異性。在多數(shù)情況下，我們不希望有織構(gòu)。但一些織構(gòu)結(jié)構(gòu)可以提高材料的力學(xué)和電學(xué)性質(zhì)，因此樣品正確的取向或織構(gòu)至關(guān)重要。大多數(shù)金屬樣品在加工過程中由于加工技術(shù)而表現(xiàn)出一定程度的織構(gòu)結(jié)構(gòu)。比如電鍍層在形成時(shí)，織構(gòu)往往與電流傳導(dǎo)方向相關(guān)。金屬經(jīng)鍛造、軋制、擠壓、拉拔等加工時(shí)，由于加工應(yīng)力的作用將形成形變...

布魯克三維X射線顯微鏡（3DX-rayMicroscopy,3DXRM）在地質(zhì)油氣領(lǐng)域的應(yīng)用極為普遍，能夠?yàn)閹r石、沉積物和流體行為的研究提供高分辨率的三維成像。這項(xiàng)技術(shù)在巖石物理、儲(chǔ)層特性分析和微觀結(jié)構(gòu)研究中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。應(yīng)用概述布魯克三維X射線顯微鏡通過X射線掃描樣品，生成其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率三維圖像。它能夠在不破壞樣品的前提下，提供詳細(xì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，對(duì)油氣地質(zhì)研究具有重要意義。主要應(yīng)用領(lǐng)域一、巖石孔隙結(jié)構(gòu)分析孔隙率與滲透率測(cè)定：三維X射線顯微鏡可以精確測(cè)量巖石樣品...

知道我的人，發(fā)現(xiàn)近期我在提倡一個(gè)字:慢。對(duì)于一個(gè)急性子的人，有點(diǎn)不可思議。不過我提倡的“慢”不是指做事慢吞吞，而是留給自己足夠的時(shí)間去琢磨一些看起來簡(jiǎn)單，無關(guān)乎結(jié)果的事情。把節(jié)奏放慢下來。儀器的進(jìn)步帶來了很多便利，常見的一句話是現(xiàn)在的D8VENTURE真好用，好的晶體分分鐘就測(cè)完了。挑晶體的時(shí)間比測(cè)試的時(shí)間還長(zhǎng)。確實(shí)現(xiàn)在的處境不是等機(jī)時(shí)，而是好多D8VENTURE空在那里等樣品。一個(gè)星期長(zhǎng)出來的樣品，一天就被清空了。剩下的時(shí)間做什么呢？我覺得應(yīng)該去琢磨哪些看起來不好做的晶體，...

俄歇電子能譜儀（AES），作為表面分析技術(shù)領(lǐng)域的納米探針，在固體材料表面納米尺度的元素成分分析及形貌表征方面發(fā)揮著重要作用。AES采用場(chǎng)發(fā)射電子源作為探針，不只能通過從樣品表面激發(fā)出二次電子以觀察表面形貌，還能通過探測(cè)俄歇電子，用于表面成分分析。此外，AES通過集成的濺射離子設(shè)備賦予了對(duì)材料縱向深度的逐層剖析能力，從而深入洞悉材料從表面至內(nèi)部的成分變化與分布規(guī)律。本篇技術(shù)文章將主要介紹AES的基本功能：表面元素的定性分析、定量分析以及化學(xué)態(tài)分析。表面元素定性分析俄歇躍遷過程表...

從工作開始接觸化學(xué)小分子晶體學(xué)，經(jīng)常見的一句話：高角度沒點(diǎn)，怎么辦?這看似簡(jiǎn)單的問題，實(shí)則隱藏著諸多未解之謎。盡管它十分普遍，但每次聽到，我總會(huì)陷入沉思。我明白提問者所要表達(dá)的意思。但是這個(gè)問題并沒有表達(dá)出晶體的衍射能力怎么樣？所謂的“沒點(diǎn)”又表示著怎樣的具體情況？然而多數(shù)情況下，稍微問一下，就發(fā)現(xiàn)“高角度沒點(diǎn)”只是空洞的訴求。分辨率，衍射能力，這是晶體學(xué)里重要的東西。然而化學(xué)晶體學(xué)很多時(shí)候都在弱化這些基礎(chǔ)。高角度無點(diǎn)，但晶體的分辨率是.9A？1.1A？1.5A？3A？還是更...

有個(gè)存在于但是不限于晶體學(xué)的問題：遇到問題，優(yōu)先級(jí)不是想著怎么理解，怎么解決，而是想著怎么掩蓋，讓別人看不到，或者忽略。近期聽到一個(gè)有意思的詞，“離群衍射點(diǎn)”，指的是精修時(shí)發(fā)現(xiàn)的（FovsFc）誤差值過大的衍射點(diǎn)，orMostDisagreeableReflections。雖然聽到時(shí)是個(gè)烏龍，被當(dāng)成了Q峰。當(dāng)然這是常見的概念上的混亂和張冠李戴，這個(gè)就不吐槽了，太費(fèi)神。但是“離群”就“刪掉”了之了么？聊聊OMIT既然說到了這個(gè)事情，那就得聊聊OMIT這個(gè)事情。如同Squeeze...